HT-YB-I玉米表型检测仪

1.1 简介

高杆植物表型检测系统又称玉米表型检测系统可一键检测分析玉米凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、玉米株高、茎秆节间距和基粗叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和玉米千粒重等高通量表型参数。仪器可广泛用于各农科院、高校、育种公司、种子站的玉米表型研究！对遗传育种研究、突变株筛选、植物形态建模、生长研究等方面起到重要作用。

1.2 高杆植物表型检测系统适用范围：

1、玉米株型适用于室内盆栽的玉米

2、玉米株高适用于大田玉米株高测量

3、千粒重适用于室内考种测量

1.3 测量误差

1、株高测量范围: 300-3800mm 精度: 0.5%

2、玉米株型:测量范围:0-1.8m，株高准确度: 1%，角度参数精度: 3%，其他参数准确度:5%

3、数粒精度误差: 2%，修正后可达100%

1.4 硬件配置

1、手机支架: 用于手机固定拍摄

2、背景布: 黑色磨砂布面

3、背光板: 超薄发光板

4、数据采集器: 超大彩色屏手机

5、玉米株高测量杆: 移动测量式标定杆

高杆植物表型检测系统

HT-YB-I玉米表型检测仪

1.1 简介

1.2 高杆植物表型检测系统适用范围：

1.3 测量误差

1.4 硬件配置

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