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降落数值测定仪是测定谷物中淀粉mei活性的仪器，可准确判断谷物的发芽损伤程度，适用于谷物、尤其是小麦粉的测定，是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的仪器。
降落数值检测仪根据GB/T10361-2008 《小麦、黑麦及其面粉，杜伦麦及其粗粒粉 降落数值测定法》新国家标准自主研制生产了降落数值仪。它是测定谷物中淀粉mei活性的专用仪器，可准确判断谷物的发芽损伤程度，适用于谷物，尤其是小麦和小麦粉的测定，是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的仪器。
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